Фундаментальные и прикладные исследования на микротроне
Электронная книга
- Автор: Юрий Ципенюк
- Издатель: Издательская фирма "Физико-математическая литература"
- Год: 2009
- ISBN: 978-5-9221-1035-8
- Цена: 545 Руб.
Лучшее оружие - знание, и книга - главный аккумулятор премудрости. И идеальный спутник в пути! И это хороший образец того типа работы, что помогает в познании военной, политической сфер, несет исторические знания, необходимые и полезные - "Фундаментальные и прикладные исследования на микротроне"
В книге обобщаются результаты теоретического исследования процесса ускорения электронов в классическом круговом и разрезном микротронах, результаты экспериментов по проверке теоретических выводов и по исследованию свойств ускоренных в микротроне электронов. Рассматриваются пути применения микротронов как источников тормозного излучения, позитронов, нейтронов (быстрых, резонансных и медленных), рентгеновского излучения и возможные процессы генерации рентгеновского излучения. Широко освещаются вопросы медицинских применений этого ускорителя (для радиотерапии и производства медицинских радионуклидов), возможные направления применения микротронов в геологии, геохимии, редкоземельной промышленности, для экспрессного определения содержания благородных металлов и состава различных руд. В книге также рассмотрены работы по околобарьерному и подбарьерному фотоделению тяжелых ядер, исследованию свойств спонтанно делящихся изомеров, поиску в природе непаулевских атомов, изучению фотоядерных реакций с вылетом альфа-частиц, исследованию двунейтронного распада ядер и высокоспиновых ядерных состояний. Предназначена широкому кругу научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики электронных ускорителей и их применений. Издание осуществлено при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований по проекту 07-02-07039
Выражаем надежду, что "Фундаментальные и прикладные исследования на микротроне" будет полезной и поможет в деле самообразования и в решении специфических военных проблем.